Casquillo de contacto KS-004 30 G Artículo KS-00430G
Casquillo de contacto KS-004 30 G Artículo KS-00430G
¡Por favor regístrese para mostrar el precio!
Iniciar sesión
Los precios enumerados en la escala se muestran redondeados, por eso son posibles desviaciones en el precio total.
envío aplicables
* Los precios se redondean con dos decimales.
Datos técnicos
| Grupo de productos : | Casquillos de contacto (KS) |
|---|---|
| Serie : | KS-004 |
| Subserie : | KS-004 versión enchufada |
| Modo de conexión de casquillo de contacto : | Soldadura |
| Anillo de presión : | Sí |
| Superficie : | Oro |
| Diámetro de cuello : | 2.8 mm |
| Altura de cuello : | 7.6 mm |
| Moleteado : | No |
| A prueba de vacío : | No |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Orificio de montaje en CEM1 : | 2.67 - 2.68 mm |
|---|---|
| Orificio de montaje en FR4 : | 2.67 - 2.68 mm |
| Orificio de montaje con anillo de presión en CEM1 : | 2.72 - 2.77 mm |
| Orificio de montaje con anillo de presión en FR4 : | 2.72 - 2.77 mm |
| Longitud total : | 30.5 mm |
|---|---|
| Diámetro externo : | 2.69 mm |
Puntas de prueba para altura de montaj, Puntas de prueba 16.50 mm
Punta de alta corriente
HSS-004 305 396 S 3000
Artículo HSS-004-0001
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 302 396 A 1500
Artículo GKS-004-0023
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 201 152 A 1500
Artículo GKS-004-0001
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 203 396 A 3000
Artículo GKS-004-0014
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 308 396 A 3000
Artículo GKS-004-0022
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 201 152 A 3000
Artículo GKS-004-0008
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 201 152 A 2000
Artículo GKS-004-0004
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION
Punta de prueba con resorte
GKS-004 206 396 A 3000
Artículo GKS-004-0013
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 305 152 A 1500
Artículo GKS-004-0026
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 302 396 A 3000
Artículo GKS-004-0018
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 308 396 A 1500
Artículo GKS-004-0017
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION
Punta de prueba con resorte
GKS-004 302 396 A 2000
Artículo GKS-004-0019
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 305 152 A 3000
Artículo GKS-004-0024
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-004 306 396 A 2000
Artículo HSS-004-0006
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 308 396 A 2000
Artículo GKS-004-0020
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-004 317 396 A 3000
Artículo HSS-004-0004
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de alta corriente
HSS-004 306 396 A 3000
Artículo HSS-004-0002
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 204 152 A 2000
Artículo GKS-004-0021
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-004 319 396 A 2000
Artículo HSS-004-0007
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 204 152 A 1500
Artículo GKS-004-0029
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 204 152 A 3000
Artículo GKS-004-0027
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 305 152 A 2000
Artículo GKS-004-0016
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION
Punta de prueba con resorte
GKS-004 206 396 A 2000
Artículo GKS-004-0005
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-004 319 396 A 3000
Artículo HSS-004-0003
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
INGUN SELECTION
Punta de prueba con resorte
GKS-004 203 396 A 2000
Artículo GKS-004-0010
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-004 317 396 A 2000
Artículo HSS-004-0008
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
INGUN SELECTION
Punta de prueba con resorte
GKS-004 206 396 A 1500
Artículo GKS-004-0002
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-004 305 396 S 2000
Artículo HSS-004-0005
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Conector con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-004 203 396 A 1500
Artículo GKS-004-0007
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.