Casquillo de contacto KS-003 30 G Artículo KS-00330G
Casquillo de contacto KS-003 30 G Artículo KS-00330G
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Datos técnicos
| Grupo de productos : | Casquillos de contacto (KS) |
|---|---|
| Serie : | KS-003 |
| Subserie : | KS-003 versión enchufada |
| Modo de conexión de casquillo de contacto : | Soldadura |
| Anillo de presión : | Sí |
| Superficie : | Oro |
| Diámetro de cuello : | 2.49 mm |
| Altura de cuello : | 7.6 mm |
| Moleteado : | No |
| A prueba de vacío : | No |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Orificio de montaje en CEM1 : | 2.33 - 2.34 mm |
|---|---|
| Orificio de montaje en FR4 : | 2.33 - 2.34 mm |
| Orificio de montaje con anillo de presión en CEM1 : | 2.39 - 2.44 mm |
| Orificio de montaje con anillo de presión en FR4 : | 2.39 - 2.44 mm |
| Longitud total : | 30.2 mm |
|---|---|
| Diámetro externo : | 2.36 mm |
Puntas de prueba para altura de montaj, Puntas de prueba 16.00 mm
Punta de prueba con resorte
GKS-003 201 127 A 3000
Artículo GKS-003-0021
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 206 254 A 3000
Artículo GKS-003-0019
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 305 170 A 2000
Artículo GKS-003-0040
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-003 305 254 S 2000
Artículo HSS-003-0005
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Punta de prueba con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 206 254 A 1200
Artículo GKS-003-0003
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-003 317 254 A 3000
Artículo HSS-003-0004
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Punta de prueba con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 302 127 A 2000
Artículo GKS-003-0015
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 308 254 A 3000
Artículo GKS-003-0042
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-003 317 254 A 2000
Artículo HSS-003-0008
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Punta de prueba con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 307 300 A 1200
Artículo GKS-003-0048
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 308 254 A 2000
Artículo GKS-003-0035
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 302 100 A 1200
Artículo GKS-003-0041
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-003 319 254 A 3000
Artículo HSS-003-0003
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Punta de prueba con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 307 300 A 2000
Artículo GKS-003-0027
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 204 254 A 3000
Artículo GKS-003-0038
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 204 254 A 1200
Artículo GKS-003-0026
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 303 254 A 2000
Artículo GKS-003-0006
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 307 254 A 3000
Artículo GKS-003-0033
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 303 254 A 1200
Artículo GKS-003-0005
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 307 254 A 1200
Artículo GKS-003-0028
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 204 254 A 2000
Artículo GKS-003-0031
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 305 254 A 3000
Artículo GKS-003-0039
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 302 127 A 1200
Artículo GKS-003-0022
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-003 306 254 A 2000
Artículo HSS-003-0006
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Punta de prueba con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 302 127 A 3000
Artículo GKS-003-0023
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de alta corriente
HSS-003 319 254 A 2000
Artículo HSS-003-0007
- Puntas de alta corriente probadas y robustas, con una relación óptima entre tamaño y capacidad de corriente
- Punta de prueba con resistencia eléctrica típica: < 10 mOhm
- Para utilizarse en pruebas de funcionamiento y de estabilidad
- Amplio surtido en formas de cabezal y fuerza del resorte, para un contacto óptimo con la pieza de prueba
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello de la punta de prueba (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los casquillos de contacto enchufables permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 305 170 A 3000
Artículo GKS-003-0043
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 206 254 A 2000
Artículo GKS-003-0004
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 305 127 A 2000
Artículo GKS-003-0007
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 302 100 A 3000
Artículo GKS-003-0047
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 201 127 A 2000
Artículo GKS-003-0002
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 305 254 A 2000
Artículo GKS-003-0036
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte
GKS-003 303 254 A 3000
Artículo GKS-003-0011
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
