Casquillo de contacto KS-002 47 G Artículo KS-00247G

Descargas
Confirmación de la conformidad RoHS (EN|PDF)
Ficha técnica del producto (ES|pdf)
Datos CAD (INGUN_KS-002_47_G.STEP)
Seleccionar variante
KS-002 47 G (KS-00247G) INGUN SELECTION
KS-002 30 G (KS-00230G) INGUN SELECTION KS-002 47 G (KS-00247G) INGUN SELECTION
Aquí puede configurar opcionalmente una nueva variante:
Datos técnicos
Datos generales
Grupo de productos : Casquillos de contacto (KS)
Serie : KS-002
Subserie : KS-002 versión enchufada
Modo de conexión de casquillo de contacto : Wire-wrap
Anillo de presión :
Superficie : Oro
Diámetro de cuello : 1.78 mm
Altura de cuello : 6.1 mm
Moleteado : No
A prueba de vacío : No
Conforme RoHS : RoHS-3
Orificio de montaje
Orificio de montaje en CEM1 : 1.68 - 1.69 mm
Orificio de montaje en FR4 : 1.68 - 1.69 mm
Orificio de montaje con anillo de presión en CEM1 : 1.70 - 1.75 mm
Orificio de montaje con anillo de presión en FR4 : 1.70 - 1.75 mm
Datos mecánicos
Longitud total : 33.5 mm
Diámetro externo : 1.67 mm

Puntas de prueba para altura de montaj, Puntas de prueba 12.10 mm

Punta de prueba con resorte GKS-002 207 191 A 2800 Artículo GKS-002-0033
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION GKS-002 206 191 A 1000
Punta de prueba con resorte GKS-002 206 191 A 1000 Artículo GKS-002-0008
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 207 191 A 1000 Artículo GKS-002-0038
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 204 152 A 1800 Artículo GKS-002-0013
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 207 191 A 1800 Artículo GKS-002-0039
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION GKS-002 303 191 A 1800
Punta de prueba con resorte GKS-002 303 191 A 1800 Artículo GKS-002-0009
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 204 152 A 2800 Artículo GKS-002-0014
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 206 191 A 2800 Artículo GKS-002-0010
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 214 191 A 1000 Artículo GKS-002-0043
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 303 191 A 2800 Artículo GKS-002-0011
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION GKS-002 303 191 A 1000
Punta de prueba con resorte GKS-002 303 191 A 1000 Artículo GKS-002-0004
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 217 191 A 2800 Artículo GKS-002-0048
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 214 191 A 1800 Artículo GKS-002-0042
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 204 152 A 1000 Artículo GKS-002-0005
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION GKS-002 201 107 A 1800
Punta de prueba con resorte GKS-002 201 107 A 1800 Artículo GKS-002-0002
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 217 191 A 1800 Artículo GKS-002-0040
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 305 064 A 2800 Artículo GKS-002-0024
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 305 064 A 1000 Artículo GKS-002-0015
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 201 107 A 2800 Artículo GKS-002-0016
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION GKS-002 206 191 A 1800
Punta de prueba con resorte GKS-002 206 191 A 1800 Artículo GKS-002-0006
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
INGUN SELECTION GKS-002 201 107 A 1000
Punta de prueba con resorte GKS-002 201 107 A 1000 Artículo GKS-002-0001
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 217 191 A 1000 Artículo GKS-002-0041
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 214 191 A 2800 Artículo GKS-002-0045
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
Punta de prueba con resorte GKS-002 305 064 A 1800 Artículo GKS-002-0017
  • Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
  • Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.