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Dettagli del prodotto
  • Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
  • Adatto a tutti i sistemi di test Keysight 307x con versione software 9.2 o superiore
  • Migliore ripetibilità, copertura dei test e rilevamento dei guasti rispetto alla tecnologia VTEP
  • 2x 64 contatti, per collegare fino a 64 sonde di test nanoVTEP

Altri prodotti di questa serie:

Dati tecnici
  • Gruppo di prodotti: opens test
  • serie: OTE
  • Tipo: Test vettoriale Keysight
  • Versione: nanoVTEP ConnectCheck Signal C
  • Tipo di accessorio: accessori di ampliamento
  • Larghezza: 35,8 mm
  • Altezza: 17,4 mm
  • Temperatura min.: 10 °C
  • Temperatura max.: 60 °C
  • Conforme a RoHS:
  • connettori di prova per vuoto (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
  • Kit di ricambio WS: WS Keysight
  • Montaggio: Filetto M3
  • Numero di poli: 2x 64
  • Lunghezza: 230 mm
  • Dimensioni esterne (LxPxA): 230 x 35,8 x 17,4 mm
Strumenti e accessori adatti
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