Informations sur le produit "OTE-KS-NV-064-MUX-REF"
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
- 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP
| Conforme RoHS: | oui |
|---|---|
| Dimensions hors tout (LxPxH): | 230 x 35,8 x 17,4 mm |
| Groupe de produits: | Opens Tests |
| Hauteur: | 17,4 mm |
| Interfaces de test sous vide (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Kits amovibles WS: | WS Keysight |
| Largeur: | 35,8 mm |
| Longueur: | 230 mm |
| Montage: | Filetage M3 |
| Nombre de pôles: | 2x 64 |
| Série: | OTE |
| Température max.: | 60 °C |
| Température min.: | 10 °C |
| Type: | Keysight Vectorless Test |
| Type d’accessoire: | Accessoires d’équipement |
| Version: | nanoVTEP ConnectCheck Signal C |
Connexion
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
- 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP
Autres produits de cette série :
- Groupe de produits: Opens Tests
- Série: OTE
- Type: Keysight Vectorless Test
- Version: nanoVTEP ConnectCheck Signal C
- Type d’accessoire: Accessoires d’équipement
- Largeur: 35,8 mm
- Hauteur: 17,4 mm
- Température min.: 10 °C
- Température max.: 60 °C
- Conforme RoHS: oui
- Interfaces de test sous vide (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Kits amovibles WS: WS Keysight
- Montage: Filetage M3
- Nombre de pôles: 2x 64
- Longueur: 230 mm
- Dimensions hors tout (LxPxH): 230 x 35,8 x 17,4 mm