La gamme d’accessoires INGUN pour l’équipement des interfaces de test est très vaste. Outre les composants déjà présentés, les clients trouveront chez nous les autres produits suivants destinés à l’équipement individuel et à des applications spécifiques.
Unités de vissage
Les unités de vissage (SBE) permettent de réaliser, pendant le contrôle, des ajustages compacts de potentiomètres rotatifs régulables. L’actionnement a lieu manuellement.
Dispositifs d’actionnements de touches
Les dispositifs d’actionnement de touche (TAB) permettent de réaliser, pendant le contrôle, des systèmes d’actionnement de touches compacts et de capteurs amortis. L’actionnement a lieu manuellement.
Poussoir de dispositif de placage
Les poussoirs de dispositif de placage (NHS) sont utilisés dans l’équipement pour immobiliser les cartes électroniques de manière sûre, en résistant à la force des pointes de test, pendant la mise en contact dans l’interface de test. Les poussoirs des dispositifs de placage sont montés dans la plaque du dispositif de placage.
Champs de transfert
Les champs de transfert (TF) sont montés sur la plaque du dispositif de placage et/ou sur la plaque d’applique, et ils servent à transmettre des signaux provenant de mises en contact sur le dessus ou les côtés. La transmission a lieu de manière amortie, ce qui permet d’aménager la plaque du dispositif de placage et/ou la plaque d’applique sans soumettre le câblage à une contrainte.
Garnitures d’applique pour objet à tester
Prüflingsauflagen (PAS) dienen als Auflagestempel für die zu prüfende Leiterplatte und werden in der Andruckplatte montiert.
Pointes d’interception
Les pointes d’interception (FS) servent à recevoir les cartes électroniques à contrôler via les alésages d’interception, et à les positionner de manière précise dans le nid d’aiguilles, sur le niveau de mise en contact.
Dispositifs de précentrage
Les dispositifs de précentrage (VZ) sont montés sur la plaque d’applique et ils servent d’aide à la mise en place afin de prépositionner les objets à tester facilement et vite sur le nid d’aiguilles.
Ressorts
Les ressorts (FED) sont montés sur la plaque porte-contacts et servent d’éléments de pression pour remonter la plaque d’applique avec l’objet à tester au niveau d’origine après la mise en contact.
Amortisseurs à gaz
Les amortisseurs à gaz (GDF) servent à l’équilibrage du poids et sont mis en œuvre comme dispositifs d’aide à l’ouverture et à la retenue dans les interfaces de test.
Barrettes VG
Les barrettes VG sont mises en œuvre à titre de jonctions enfichables pour la transmission électrique multipolaire de signaux dans la plage des basses tensions, par exemple pour relier le dispositif de mise en contact des cartes électroniques au système de test.
Tapis de nettoyage des contacts
Les tapis de nettoyage des contacts (KRM) sont mis en œuvre pour nettoyer les têtes des pointes de test salies – c’est un moyen simple, surtout avec les formes de tête pointues, pour allonger la durée de mise en œuvre des pointes de test.
Autres pièces détachées
INGUN offre à ses clients d’autres accessoires destinés à l’équipement des interfaces de test. Parmi eux figurent les : Douilles de guidage et pointes de guidage, Disques et poussoirs limitateurs de course, Kits d’assemblage ESD, Contacts de signalisation à course, Fermetures à déclics, Compte-courses, Analyseur LED Feasa, Câble à fibre optique, Flexibles pneumatiques, Pointes de test pour interfaces, Pièces de contact pour interfaces et champs de transmission
Dispositifs de mise en contact à fiches et connecteurs de contrôle
Les dispositifs de mise en contact à fiches (STK) et les connecteurs de contrôle (PS) sont utilisés pour la mise en contact, sûre durant le processus et accompagnée de peu d’usure, de connecteurs enfichables sur des modules électroniques.
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
- 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP
- Tapis confirmés de nettoyage des têtes encrassées des pointes de contact
- Possibilité simple de prolonger la durée de mise en œuvre des tiges de contact
- Idéal pour les têtes de forme pointue à propriétés autonettoyantes
- Tailles différentes