Interface de test sous vide VA 3070L-2e/i3070 Article 115308
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- Interface de test sous vide avec cassette sous vide serrant en parallèle.
- Y compris interface adaptatrice pour système de test Keysight i3070
- Y compris poignées de transport compatibles Alum-A-Lift
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Confort d’utilisation accru, manipulation simple et intuitive
- Pour le montage des articles livrés non montés, les dessins des articles indiqués dans la liste de pièces doivent être utilisés.
Interface de test sous vide VA 3070L-2e/i3070 Article 115308
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VA 3070L-2e/i3070 (115308)
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Données techniques
| Groupe de produits : | Interface de test sous vide (VA) |
|---|---|
| Série principale : | VA xxxx |
| Sous-série : | VA 30xx |
| Série : | VA 3070L |
| Taille du type : | xx70L |
| Type d’interface de test : | Interface individuelle, Keysight grand |
| Génération de course de contact : | vide |
| Type de boîtier : | Boîtier plat |
| Signaux d’interface max. : | 7104 |
| Blocs d’interface requis : | non |
| Sens de mise en contact : | ICT/FCT en bas |
| Force de contact max. : | 26000 N |
| Course de contact parallèle env. : | 12 mm |
| Interface pour système de test : | Keysight i3070 grand |
| Poids : | 22.9 kg |
| Température min. : | + 10 °C |
| Température max. : | + 60 °C |
| Basse tension : | non |
| Conformité ESD : | non |
| Conforme RoHS : | RoHS-3;6a;6c |
| Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : | 16 mm |
|---|---|
| Hauteur d’incorporation pointe de test à 2 niveaux en bas : | 21.5 mm |
| Version standard : | oui |
| Version ESD : | non |
| Version haute fréquence : | non |
| Version à aiguille rigide : | non |
| Version à 2 niveaux : | oui |
| Surface utile à 2 niveaux (LxP) : | 665 x 350 mm |
| Mise en contact en haut (ZSK) : | oui, avec option supplémentaire adaptée |
| Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : | 840 x 460 x 117 mm |