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Produkt-Informationen "OTE-KS-NV-064-MUX-REF"
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
- 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden
| Außenmaße (BxTxH): | 230 x 35,8 x 17,4 mm |
|---|---|
| Breite: | 35,8 mm |
| Höhe: | 17,4 mm |
| Länge: | 230 mm |
| RoHS-konform: | ja |
| Produktgruppe: | Opens Tests |
| Baureihe: | OTE |
| Ausführung: | nanoVTEP ConnectCheck Signal C |
| Temperatur min.: | 10 °C |
| Temperatur max.: | 60 °C |
| Typ: | Keysight Vectorless Test |
| Vakuum-Prüfadapter (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Zubehörtyp: | Ausbauzubehör |
| Anzahl Pole: | 2x 64 |
| Montage: | Gewinde M3 |
| Wechselsätze WS: | WS Keysight |
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Produkt Details
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
- 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden
Weitere Produkte dieser Baureihe:
Technische Daten
Allgemeine Daten
- Produktgruppe: Opens Tests
- Baureihe: OTE
- Typ: Keysight Vectorless Test
- Ausführung: nanoVTEP ConnectCheck Signal C
- Zubehörtyp: Ausbauzubehör
- Breite: 35,8 mm
- Höhe: 17,4 mm
- Temperatur min.: 10 °C
- Temperatur max.: 60 °C
- RoHS-konform: ja
Passend für
- Vakuum-Prüfadapter (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Wechselsätze WS: WS Keysight
Technische Daten
- Montage: Gewinde M3
- Anzahl Pole: 2x 64
- Länge: 230 mm
- Außenmaße (BxTxH): 230 x 35,8 x 17,4 mm
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