真空测试治具 VA 3070L-2e/i3070 产品 115308
技术数据
产品组 : | 真空测试治具 (VA) |
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主系列 : | VA xxxx |
子系列 : | VA 30xx |
结构系列 : | VA 3070L |
尺寸 : | xx70L |
治具类型 : | 单件冶具,Keysight large(大号) |
触探行程实施 : | 真空 |
外壳类型 : | 扁平外壳 |
最大接口信号 : | 7104 |
需要接口模块 : | 否 |
触探装置方向 : | ICT/FCT 下 |
最大接触力 : | 26000 N |
平行触探行程约 : | 12 mm |
测试系统接口 : | Keysight i3070 large(大号) |
重量 : | 22.9 kg |
最小温度 : | + 10 °C |
最大温度 : | + 60 °C |
低电压 : | 否 |
静电放电 (ESD) 符合性 : | 否 |
RoHS 符合性 : | RoHS-3;6a;6c |
下部探针安装高度 : | 16 mm |
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下部 2 级探针安装高度 : | 21.5 mm |
标准规格 : | 是 |
静电放电 (ESD) 规格 : | 否 |
高频规格 : | 否 |
刚性滚针规格 : | 否 |
2 级规格 : | 是 |
2 级有效面积(宽x深) : | 665 x 350 mm |
上部附加触探装置 (ZSK) : | 是,采用合适的附加选项 |
外部尺寸,闭(宽x深x高) : | 840 x 460 x 117 mm |