真空测试治具 (VA) 适用于在工业制造中对数量较大而变型数量少的印制电路板进行可靠触探。可通过抽吸真空区域内的空气形成负压，从而在几毫米高度上实施平行触探行程。为了将被测器件压到弹簧探针上，需要使用标准组件，即所谓的真空上层结构。这些组件可用作真空罩、真空 压紧装置、真空附加触探装置或真空驱动装置，并可根据测试要求进行适配和扩展。
可提供适合所有常见测试系统和接口的版本
真空测试冶具为 单件测试冶具，不带可更换的 替换套件。其具有多种设计和尺寸、带或不带测试系统接口，适用于常见测试系统。
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