nanoVTEP 探针 OTC-KS-NV-GKS 产品 111606

  • 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
  • 适用于软件版本为 9.2 或更高的所有 Keysight 307x 测试系统
  • 与 VTEP 技术相比，重复精度、测试覆盖率和故障检测能力均有提高
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nanoVTEP 探针 OTC-KS-NV-GKS 产品 111606

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CAD 数据 (INGUN_111606.STEP)
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OTC-KS-NV-GKS (111606)
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技术数据
一般数据
产品组 : 开路测试
结构系列 : OTC
类型 : Keysight 无矢量测试
规格 : nanoVTEP 弹簧探针 (QA)
配件类型 : 扩展配件
最小温度 : + 10 °C
最大温度 : + 60 °C
RoHS 符合性 : RoHS-3
适用于
真空测试治具 (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
替换套件 (WS) : WS Keysight

真空测试治具

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
真空测试治具 VA 2070S/i3070-5 产品 4844-KIT
  • 真空测试治具具有平行闭合的真空盒，用于测试大量印制电路板
  • 坚固耐用，便于维护，使用寿命出色
  • 可用于 Keysight i3070 测试系统
  • 操作更便利，且无明显的闭合力
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 详细的随附文件（例如：扩展图）
产品细节