Adaptateurs de contrôle sous vide
Les interfaces de test sous vide (VA) sont, en tant qu’interfaces de test individuelles, réalisées principalement sans équipements. Elles sont disponibles en différentes tailles sans et avec interface pour système de test ainsi qu’adaptées à tous les systèmes de test et interfaces courants. Les cassettes sous vide sont conçues pour la mise en contact unilatérale à 1 niveau ou unilatérale à 2 niveaux afin de réaliser les contrôles combinés FKT/ICT.
La mise en contact unilatérale à 2 niveaux est réalisée au moyen d’une plaque coulissante à entraînement électrique. Le contrôle ICT a lieu au premier niveau, et le contrôle FKT a lieu au deuxième niveau, situé env. 5 mm au-dessus du premier niveau. Avec des équipements correspondants, par ex. sous la forme d’une mise en contact supplémentaire (ZSK), une mise en contact à un niveau supplémentaire peut être réalisée par le haut, de sorte que l’interface de test sous vide est équipée pour une mise en contact des deux côtés. Les interfaces de test sous vide conviennent aux tests avec systèmes de test commandés par le vide dans lesquels la course de contact est générée de manière automatisée par le vide (dépression) pour mettre en contact des modules électroniques en grands nombres (test de masse) et avec un nombre réduit de variantes.