Interface de test sous vide VA 3070ST/i3070 Article 115194

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Données CAO (INGUN_115194.STEP)
Document (114947__Kundenzeichnung.PDF)
Document (INFO_4675.PDF)
Document (114915__Kundenzeichnung.PDF)
Document (115194__Kundenzeichnung.PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (INFO_4677.PDF)
Choisir variante
VA 3070ST/i3070 (115194)
VA 3070ST/ZSK-10/i3070 (115349) VA 3070ST/i3070 (115194)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Interface de test sous vide (VA)
Série principale : VA xxxx
Série : VA 30xx
Série : VA 3070ST
Taille du type : xx70S
Type d’interface de test : Tandemadapter, Keysight small
Génération de course de contact : vide
Type de boîtier : Boîtier plat
Signaux d’interface max. : 3552
Blocs d’interface requis : non
Sens de mise en contact : ICT unten
Force de contact max. : 5500 N
Course de contact parallèle env. : 7 mm
Interface pour système de test : Keysight i3070 small
Poids : 19.4 kg
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Basse tension : non
Conformité ESD : non
Conforme RoHS : RoHS-3;6a;6c
Caractéristiques techniques
Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : 16 mm
Version standard : oui
Surface utile standard (LxP) : 2x 115 x 400 mm
Version ESD : non
Version haute fréquence : non
Version à aiguille rigide : non
Version à 2 niveaux : non
Mise en contact en haut (ZSK) : oui, avec option supplémentaire adaptée
Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : 478 x 460 x 117 mm