Interface de test sous vide VA 3070ST/ZSK-10/i3070 Article 115349

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Document (115349__Kundenzeichnung.PDF)
Données CAO (INGUN_115349.STEP)
Document (115350__Kundenzeichnung.PDF)
Document (INFO_4675.PDF)
Document (114915__Kundenzeichnung.PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (INFO_4677.PDF)
Choisir variante
VA 3070ST/ZSK-10/i3070 (115349)
VA 3070ST/ZSK-10/i3070 (115349) VA 3070ST/i3070 (115194)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Interface de test sous vide (VA)
Série principale : VA xxxx
Sous-série : VA 30xx
Série : VA 3070ST
Taille du type : xx70S
Type d’interface de test : Interface tandem, disp. de mise en contact supplémentaire, Keysight petit
Génération de course de contact : vide
Type de boîtier : Boîtier plat
Signaux d’interface max. : 3552
Blocs d’interface requis : non
Sens de mise en contact : ICT en bas, en haut
Force de contact max. : 5500 N
Course de contact parallèle env. : 7 mm
Interface pour système de test : Keysight i3070 petit
Poids : 24.4 kg
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Basse tension : non
Conformité ESD : non
Conforme RoHS : RoHS-3;6a;6c
Caractéristiques techniques
Longueur du poussoir du dispositif de placage : 15 mm
Hauteur d’incorporation pointe de test en haut : 10.5 mm
Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : 16 mm
Hauteur libre au-dessus de la PCB : 4.6 mm
Angle d’ouverture du dispositif de placage : 85 °
Version standard : oui
Version ESD : non
Version haute fréquence : non
Version à aiguille rigide : non
Version à 2 niveaux : non
Mise en contact en haut (ZSK) : oui
Surface utile ZSK (LxP) : 2x 100 x 260 mm
Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : 478 x 460 x 151 mm