NanoVTEP G2 SingleProbe B/C OTU-KS-NV-007-004-G2 Article 114388

  • Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
  • Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
  • Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
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NanoVTEP G2 SingleProbe B/C OTU-KS-NV-007-004-G2 Article 114388

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Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Données CAO (INGUN_114388.STEP)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (INFO_4250.PDF)
Document (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
Document (114388__Kundenzeichnung.PDF)
Choisir variante
OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388)
OTU-KS-NV-155-013 (109706) OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386) OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387) OTU-KS-NV-031-031 (109704) OTU-SP-ES-028-028-L300 (32630) OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388) OTU-KS-NV-065-065 (109705) OTU-TD-FX-CS-008-005 (19644) OTU-TD-FX-CS-007-004 (19643) OTU-DT-OC-160-100 (18748) TTC-SP-NTC-SP-010-010-GKS-KS14 (60291)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Opens Tests
Série : OTU
Type : Keysight Vectorless Test
Version : nanoVTEP Gen2 SP taille B/C
Type d’accessoire : Accessoires d’équipement
État à la livraison : Avec nanoVTEP Gen2
Largeur : 4 mm
Hauteur : 48.7 mm
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Conforme RoHS : RoHS-3
Caractéristiques techniques
Course : 4 mm
Longueur : 7 mm
Dimensions hors tout (LxPxH) : 7.0 x 4.0 x 48.7 mm
Adapté aux
Interfaces de test sous vide (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Kits amovibles WS : WS Keysight