NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Article 114387
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Article 114387
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OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387)
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Données techniques
| Groupe de produits : | Opens Tests |
|---|---|
| Série : | OTU |
| Type : | Keysight Vectorless Test |
| Version : | nanoVTEP Gen2 SP 0,16 pouce |
| Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
| État à la livraison : | Avec nanoVTEP Gen2 |
| Largeur : | 4 mm |
| Hauteur : | 48.7 mm |
| Température min. : | + 10 °C |
| Température max. : | + 60 °C |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Course : | 4 mm |
|---|---|
| Longueur : | 4 mm |
| Dimensions hors tout (LxPxH) : | 4.0 x 4.0 x 48.7 mm |
| Interfaces de test sous vide (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Kits amovibles WS : | WS Keysight |