FrameScanFX2.0 carte de sélecteur OTE-TD-FX-064-MUX Article 31737

  • Circuits électroniques de commande pour l'Open-Test servant au contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
  • Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
  • Montage simple et rapide
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FrameScanFX2.0 carte de sélecteur OTE-TD-FX-064-MUX Article 31737

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Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (31737__Kundenzeichnung.PDF)
Choisir variante
OTE-TD-FX-064-MUX (31737)
OTE-SP-ES-016-MUX (32627) OTE-TD-FX-064-MUX-SET (31738) OTE-KS-NV-064-MUX (108710) OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711) OTE-TD-FX-064-MUX (31737) OTE-TS-OE-032-OFM (22373)
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Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Opens Tests
Série : OTE
Type : Teradyne
Version : Selector Board FrameScanFX2.0
Type d’accessoire : Accessoires d’équipement
Largeur : 25.5 mm
Hauteur : 14.5 mm
Conforme RoHS : RoHS-3
Caractéristiques techniques
Montage : Alésage D4
Nombre de pôles : 2x 64
Longueur : 229 mm
Dimensions hors tout (LxPxH) : 25.5 x 229 x 14.5 mm
Adapté aux
Interfaces de test sous vide (VA) : VA 2030, VA 2040, VA 2050, VA 2060
Kits amovibles WS : WS Teradyne/TSH5x