NanoVTEP Gen 2 receptacle OTC-KS-NV-KS-G2 Article 114374
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- Composants confirmés pour l'open-test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
NanoVTEP Gen 2 receptacle OTC-KS-NV-KS-G2 Article 114374
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* Les prix sont arrondis à deux décimales.
Données techniques
Groupe de produits : | Opens Tests |
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Série : | OTC |
Type : | Keysight |
Version : | nanoVTEP Douille de contact Gen2 |
Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
Température min. : | + 10 °C |
Température max. : | + 60 °C |
Conforme RoHS : | RoHS-3 |
Longueur : | 33.8 mm |
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Diamètre : | 5.5 mm |
Interfaces de test sous vide (VA) : | VA 2070S, VA 2073L |
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Kits amovibles WS : | WS Keysight |