NanoVTEP Gen 2 full assembly OTC-KS-NV-EP-ST-KS-G2 Article 114385
New
- Composants confirmés pour l'open-test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
NanoVTEP Gen 2 full assembly OTC-KS-NV-EP-ST-KS-G2 Article 114385
Merci de vous identifier pour pouvoir afficher le prix !
Se connecter
Les prix listés dans le barème sont affichés arrondis, raison pour laquelle des différences sont possibles dans le prix total.
frais de port
* Les prix sont arrondis à deux décimales.
Données techniques
Groupe de produits : | Opens Tests |
---|---|
Série : | OTC |
Type : | Keysight |
Version : | nanoVTEP Gen2 |
Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
État à la livraison : | Avec amplificateur, douille, KS |
Température min. : | + 10 °C |
Température max. : | + 60 °C |
Conforme RoHS : | RoHS-3 |
Course : | 4 mm |
---|---|
Longueur : | 47.6 mm |
Diamètre : | 5.05 mm |
Interfaces de test sous vide (VA) : | VA 2070S, VA 2073L |
---|---|
Kits amovibles WS : | WS Keysight |