KS avec embout carré et bague sertie KS-075 47 G Article KS-07547G
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Données techniques
| Groupe de produits : | Douilles de contact (KS) |
|---|---|
| Série : | KS-075 |
| Sous-série : | KS-075 Version enfichée |
| Type de raccordement douille de contact : | Wire-Wrap |
| Bague sertie : | oui |
| Surface : | Or |
| Diamètre de collet : | 1.47 mm |
| Hauteur de col : | 7.6 mm |
| Longueur de broche Wire-Wrap : | 10 mm |
| Surface moletée : | non |
| Étanche au vide : | oui (< 1 cm³ / min) |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Alésage de montage en CEM1 : | 1.30 - 1.32 mm |
|---|---|
| Alésage de montage en FR4 : | 1.31 - 1.33 mm |
| Alésage de montage avec bague sertie en CEM1 : | 1.39 - 1.40 mm |
| Alésage de montage avec bague sertie en FR4 : | 1.39 - 1.40 mm |
| Longueur totale : | 40 mm |
|---|---|
| Diamètre extérieur : | 1.32 mm |
Pointes de test pour hauteur d’incorporation 21.00 mm
Pointe de test à ressort
GKS-075 297 064 A 2000 E
Article GKS-075-1047
- Pointes de test confirmées à des millions d'exemplaires, pour mettre les cartes électroniques en contact
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions.
- Différentes forces de ressort disponibles, ainsi que des variantes avec ressort en acier inoxydable pour les hautes températures
- Pour régler les conditions de course optimales dans l'adaptateur de contrôle, il est possible de réaliser différentes hauteurs d'incorporation en combinant la tige de contact et la douille de contact
Pointes de test
INGUN E-TYPE®
E-075
- Très haute sécurité du contact dans des conditions de test synonymes de défis, sans stresser en plus l'objet à tester : surface de contact jusqu’à 25 % plus élevée entre la pointe de contact et l'objet à tester
- Lors de l'entrée en contact avec la surface à tester, une force d'amorti jusqu’à 100 % plus élevée est disponible, mais dans la course de travail toutefois la même force d'amorti qu’une GKS standard.
Pointe de test à ressort
GKS-035
- Pointe de contact à course longue pour réaliser des ICT et FCT combinés dans une interface à 2 niveaux
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
- Pour régler les conditions de course optimales dans l'adaptateur de contrôle, il est possible de réaliser différentes hauteurs d'incorporation en combinant la tige de contact et la douille de contact
Pointe de test à ressort
GKS-075
- Pointes de test confirmées à des millions d'exemplaires, pour mettre les cartes électroniques en contact
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions.
- Différentes forces de ressort disponibles, ainsi que des variantes avec ressort en acier inoxydable pour les hautes températures
- Pour régler les conditions de course optimales dans l'adaptateur de contrôle, il est possible de réaliser différentes hauteurs d'incorporation en combinant la tige de contact et la douille de contact
Pointe de test à ressorts, version longue
GKS-075 LP
- Pointes de test confirmées à des millions d'exemplaires, pour mettre les cartes électroniques en contact
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions.
- Différentes forces de ressort disponibles, ainsi que des variantes avec ressort en acier inoxydable pour les hautes températures
- Pour régler les conditions de course optimales dans l'adaptateur de contrôle, il est possible de réaliser différentes hauteurs d'incorporation en combinant la tige de contact et la douille de contact
Pointe de test à ressort
GKS-075 E
- Pointes de test confirmées à des millions d'exemplaires, pour mettre les cartes électroniques en contact
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions.
- Différentes forces de ressort disponibles, ainsi que des variantes avec ressort en acier inoxydable pour les hautes températures
- Pour régler les conditions de course optimales dans l'adaptateur de contrôle, il est possible de réaliser différentes hauteurs d'incorporation en combinant la tige de contact et la douille de contact
Pointe de test à ressorts, version longue
GKS-075 LH
- Pointes de test confirmées à des millions d'exemplaires, pour mettre les cartes électroniques en contact
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions.
- Différentes forces de ressort disponibles, ainsi que des variantes avec ressort en acier inoxydable pour les hautes températures
- Pour régler les conditions de course optimales dans l'adaptateur de contrôle, il est possible de réaliser différentes hauteurs d'incorporation en combinant la tige de contact et la douille de contact
Douilles de contact
