Douille de contact KS-003 30 G Article KS-00330G
Douille de contact KS-003 30 G Article KS-00330G
Merci de vous identifier pour pouvoir afficher le prix !
Se connecter
Les prix listés dans le barème sont affichés arrondis, raison pour laquelle des différences sont possibles dans le prix total.
frais de port
* Les prix sont arrondis à deux décimales.
Données techniques
| Groupe de produits : | Douilles de contact (KS) |
|---|---|
| Série : | KS-003 |
| Sous-série : | KS-003 Version enfichée |
| Type de raccordement douille de contact : | Soudage |
| Bague sertie : | oui |
| Surface : | Or |
| Diamètre de collet : | 2.49 mm |
| Hauteur de col : | 7.6 mm |
| Surface moletée : | non |
| Étanche au vide : | non |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Alésage de montage en CEM1 : | 2.33 - 2.34 mm |
|---|---|
| Alésage de montage en FR4 : | 2.33 - 2.34 mm |
| Alésage de montage avec bague sertie en CEM1 : | 2.39 - 2.44 mm |
| Alésage de montage avec bague sertie en FR4 : | 2.39 - 2.44 mm |
| Longueur totale : | 30.2 mm |
|---|---|
| Diamètre extérieur : | 2.36 mm |
Pointes de test pour hauteur d’incorporation 16.00 mm
Pointe de test à ressort
GKS-003 201 127 A 3000
Article GKS-003-0021
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 307 300 A 3000
Article GKS-003-0032
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 206 254 A 3000
Article GKS-003-0019
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 170 A 2000
Article GKS-003-0040
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 170 A 1200
Article GKS-003-0034
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 305 254 S 2000
Article HSS-003-0005
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 307 254 A 2000
Article GKS-003-0030
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 305 254 S 3000
Article HSS-003-0001
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 127 A 1200
Article GKS-003-0008
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 206 254 A 1200
Article GKS-003-0003
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 317 254 A 3000
Article HSS-003-0004
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 302 127 A 2000
Article GKS-003-0015
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 308 254 A 3000
Article GKS-003-0042
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 317 254 A 2000
Article HSS-003-0008
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 307 300 A 1200
Article GKS-003-0048
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 308 254 A 2000
Article GKS-003-0035
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 302 100 A 1200
Article GKS-003-0041
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 319 254 A 3000
Article HSS-003-0003
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 201 127 A 1200
Article GKS-003-0001
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 307 300 A 2000
Article GKS-003-0027
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 204 254 A 3000
Article GKS-003-0038
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 204 254 A 1200
Article GKS-003-0026
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 303 254 A 2000
Article GKS-003-0006
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 307 254 A 3000
Article GKS-003-0033
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 303 254 A 1200
Article GKS-003-0005
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 307 254 A 1200
Article GKS-003-0028
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 204 254 A 2000
Article GKS-003-0031
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 254 A 3000
Article GKS-003-0039
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 302 127 A 1200
Article GKS-003-0022
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 306 254 A 2000
Article HSS-003-0006
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 302 127 A 3000
Article GKS-003-0023
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 319 254 A 2000
Article HSS-003-0007
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 170 A 3000
Article GKS-003-0043
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 206 254 A 2000
Article GKS-003-0004
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe haute intensité
HSS-003 306 254 A 3000
Article HSS-003-0002
- Pointes haute intensité confirmées et robustes, offrant un rapport optimal taille/ampérage supportable
- Pointe basse résistance avec Ri typique : < 10 mOhms
- Pour l'emploi dans des tests fonctionnels et burn-in
- Grand choix de formes de tête et de forces de ressort pour un contact optimal avec l’objet à tester
- Réglage optimal des proportions de course dans l’interface de test : Le collet de pointe de test (cote E) est livrable en différentes hauteurs, ce qui permet en combinaison avec les douilles de contact une flexibilité maximale de la hauteur d’insertion.
Pointe de test à ressort
GKS-003 308 254 A 1200
Article GKS-003-0029
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 127 A 2000
Article GKS-003-0007
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 127 A 3000
Article GKS-003-0020
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 254 A 1200
Article GKS-003-0037
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 302 100 A 3000
Article GKS-003-0047
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 201 127 A 2000
Article GKS-003-0002
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 302 100 A 2000
Article GKS-003-0016
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 305 254 A 2000
Article GKS-003-0036
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-003 303 254 A 3000
Article GKS-003-0011
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
