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Douille de contact KS-002 30 G Article KS-00230G

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Données CAO (INGUN_KS-002_30_G.STEP)
Choisir variante
KS-002 30 G (KS-00230G) INGUN SELECTION
KS-002 30 G (KS-00230G) INGUN SELECTION KS-002 47 G (KS-00247G) INGUN SELECTION
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Douilles de contact (KS)
Série : KS-002
Sous-série : KS-002 Version enfichée
Type de raccordement douille de contact : Soudage
Bague sertie : oui
Surface : Or
Diamètre de collet : 1.78 mm
Hauteur de col : 6.1 mm
Surface moletée : non
Étanche au vide : non
Conforme RoHS : RoHS-3
Alésage de montage
Alésage de montage en CEM1 : 1.68 - 1.69 mm
Alésage de montage en FR4 : 1.68 - 1.69 mm
Alésage de montage avec bague sertie en CEM1 : 1.70 - 1.75 mm
Alésage de montage avec bague sertie en FR4 : 1.70 - 1.75 mm
Caractéristiques mécaniques
Longueur totale : 24.2 mm
Diamètre extérieur : 1.67 mm

Pointes de test pour hauteur d’incorporation 12.10 mm

Pointe de test à ressort GKS-002 305 064 A 1800 Article GKS-002-0017
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 217 191 A 2800 Article GKS-002-0048
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 207 191 A 2800 Article GKS-002-0033
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 204 152 A 1000 Article GKS-002-0005
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 206 191 A 1800 Article GKS-002-0006
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 303 191 A 1000 Article GKS-002-0004
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 305 064 A 2800 Article GKS-002-0024
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 214 191 A 2800 Article GKS-002-0045
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 206 191 A 2800 Article GKS-002-0010
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 217 191 A 1000 Article GKS-002-0041
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 204 152 A 1800 Article GKS-002-0013
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 305 064 A 1000 Article GKS-002-0015
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 201 107 A 1800 Article GKS-002-0002
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 214 191 A 1800 Article GKS-002-0042
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 303 191 A 2800 Article GKS-002-0011
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 206 191 A 1000 Article GKS-002-0008
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 204 152 A 2800 Article GKS-002-0014
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 201 107 A 1000 Article GKS-002-0001
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 207 191 A 1000 Article GKS-002-0038
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 214 191 A 1000 Article GKS-002-0043
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 201 107 A 2800 Article GKS-002-0016
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 207 191 A 1800 Article GKS-002-0039
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 303 191 A 1800 Article GKS-002-0009
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort GKS-002 217 191 A 1800 Article GKS-002-0040
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.