Douille de contact KS-001 47 G Article KS-00147G
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Données techniques
| Groupe de produits : | Douilles de contact (KS) |
|---|---|
| Série : | KS-001 |
| Sous-série : | KS-001 Version enfichée |
| Type de raccordement douille de contact : | Wire-Wrap |
| Bague sertie : | oui |
| Surface : | Or |
| Diamètre de collet : | 1.45 mm |
| Hauteur de col : | 4 mm |
| Surface moletée : | non |
| Étanche au vide : | non |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Alésage de montage en CEM1 : | 1.31 - 1.32 mm |
|---|---|
| Alésage de montage en FR4 : | 1.31 - 1.32 mm |
| Alésage de montage avec bague sertie en CEM1 : | 1.36 - 1.40 mm |
| Alésage de montage avec bague sertie en FR4 : | 1.36 - 1.40 mm |
| Longueur totale : | 27.5 mm |
|---|---|
| Diamètre extérieur : | 1.32 mm |
Pointes de test pour hauteur d’incorporation 8.50 mm
Pointe de test à ressort
GKS-001 302 150 A 0600
Article GKS-001-0023
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 303 150 A 0600
Article GKS-001-0020
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 305 100 A 1500
Article GKS-001-0021
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 303 150 A 1500
Article GKS-001-0017
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 204 150 A 1500
Article GKS-001-0022
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 305 100 A 1000
Article GKS-001-0005
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 302 150 A 1500
Article GKS-001-0030
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 306 150 A 1000
Article GKS-001-0001
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 306 150 A 0600
Article GKS-001-0010
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 201 075 A 1000
Article GKS-001-0007
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 306 100 A 1000
Article GKS-001-0003
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 201 075 A 0600
Article GKS-001-0024
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 305 100 A 0600
Article GKS-001-0015
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 307 150 A 1500
Article GKS-001-0018
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 306 100 A 0600
Article GKS-001-0012
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 306 100 A 1500
Article GKS-001-0014
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 204 150 A 0600
Article GKS-001-0032
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 302 150 A 1000
Article GKS-001-0004
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 307 150 A 0600
Article GKS-001-0026
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 303 150 A 1000
Article GKS-001-0011
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 204 150 A 1000
Article GKS-001-0013
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 201 075 A 1500
Article GKS-001-0008
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 306 150 A 1500
Article GKS-001-0002
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.
Pointe de test à ressort
GKS-001 307 150 A 1000
Article GKS-001-0016
- Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
- Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.