Kontaktstift INGUN S-Line S-050 306 115 A 1200 L Artikel S-050-0006
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- Einsatz von größeren Kontaktstiften für erhöhte Treffergenauigkeit und längere Lebensdauer
- Minimales Rastermaß durch Einsparung der Kontaktsteckhülse („Socketless”)
- Große Auswahl an Kopfformen und Federkräften für den optimalen Kontakt zum Prüfpunkt
- Passend für bestehende Socketless-Systeme
Kontaktstift INGUN S-Line S-050 306 115 A 1200 L Artikel S-050-0006
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Technische Daten
| Produktgruppe : | ICT / FCT (Incircuit- und Funktionstest) |
|---|---|
| Unterproduktgruppe : | INGUN S-Line |
| Baureihe : | S-050 L Langversion |
| Raster : | 1.27 mm |
| Kontaktierung von : | Pin, Pfosten, Flachkontakt |
| Magnetisch : | ja |
| Einbauart : | steckbar |
| Schnellwechselsystem : | ja |
| Anschlussart am Kontaktstift : | Kontaktterminal |
| Einbauhöhe einstellbar : | nein |
| Verdrehgesichert : | nein |
| Temperatur min. : | - 40 °C |
| Temperatur max. : | + 80 °C |
| RoHS-konform : | RoHS-3;6c |
| Strombelastbarkeit / Nennstrom : | 4 A |
|---|---|
| Widerstand (Ri) typisch : | < 20 mOhm |
| Gesamtlänge : | 39.62 mm |
|---|---|
| Stifthülsendurchmesser : | 1.02 mm |
| Maximaler Hub : | 10 mm |
| Federvorspannung : | 0.21 N |
| E-Maß / Kragenmaß : | 00 |
| Federkraft bei Arbeitshub : | 1.2 N |
| Arbeitshub : | 8 mm |
| Montagebohrung Kontaktträgerplatte (KTP) : | 1.07 - 1.09 mm |
| Montagebohrung S-Line Distanzplatte (SDP) : | min. 1.14 mm |
| KT-Bezeichnung : | KT-S050 |
| Kopfform : | 06 Waffel (Riffel) |
|---|---|
| Kopfdurchmesser : | 1.15 mm |
| Kopfform Oberfläche : | A Gold |
| Kopfform Werkstoff : | 3 CuBe |
Kontaktteile
Kontaktteil A
KT-S-050 47 35
Artikel KT-S050-0001
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- Die variable Einbauhöhe ermöglicht die optimale Berücksichtigung unterschiedlicher Prüfpunktniveaus
Kontaktteil
KT-S-050 67 24
Artikel KT-S050-0003
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- Die variable Einbauhöhe ermöglicht die optimale Berücksichtigung unterschiedlicher Prüfpunktniveaus
Kontaktteil
KT-S-050 67 23
Artikel KT-S050-0002
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- Passend für bestehende Socketless-Systeme
- Die variable Einbauhöhe ermöglicht die optimale Berücksichtigung unterschiedlicher Prüfpunktniveaus