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产品信息
產品資訊 "OTE-SP-ES-016-MUX"
- 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
- 适用于 SPEA 测试系统
| RoHS 符合性: | 是 |
|---|---|
| 交付状态: | 无外壳 |
| 产品组: | 开路测试 |
| 外部尺寸（宽x深x高）: | 85,1 x 51,5 x 14,3 mm |
| 安装: | 孔 D3.1 |
| 宽度: | 51,5 mm |
| 替换套件 (WS): | WS SPEA |
| 最大温度: | 60 °C |
| 最小温度: | 10 °C |
| 极数: | 16 |
| 类型: | SPEA opens test |
| 结构系列: | OTE |
| 规格: | Escan Multiplexer 16 CH Open-Pin |
| 配件类型: | 扩展配件 |
| 重量: | 0,02 kg |
| 长度: | 85,1 mm |
| 高度: | 14,3 mm |
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产品详情
- 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
- 适用于 SPEA 测试系统
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