產品資訊 "OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS"
- 经过实践检验的开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
- 适用于 Keysight（TestJet，VTEP）、Teradyne (FrameScan) 和 Spea (Escan) 测试系统
- 安装简便快捷
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产品详情
- 经过实践检验的开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
- 适用于 Keysight（TestJet，VTEP）、Teradyne (FrameScan) 和 Spea (Escan) 测试系统
- 安装简便快捷
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