用 S-Line 构建新的测试治具
由于 S-Line 无需触针套,栅距仅由接触探针的直径决定。因此,可以在测试点密集的区域使用更稳定的接触探针。
- 更高的机械稳定性
- 批量运行中更长的使用寿命
- 降低磨损敏感性
无论是新搭建还是现有测试治具:S-Line 使得在 ICT/FCT 以及测试点密度高的批量应用中,能够使用更稳定的接触探针。
由于 S-Line 无需触针套,栅距仅由接触探针的直径决定。因此,可以在测试点密集的区域使用更稳定的接触探针。
我们的无套筒接触探针及触探部件专为直接用于基于 X-Probe®的测试治具而设计。这样您就拥有了一种可立即获得的替代方案,无需进行复杂的重新设计或长时间的改造。
为让供货瓶颈不影响您的测试流程,S-Line 可快速更换常见的无套筒接触探针——无需重新设计您的测试系统。
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| X-Probe® 系列 | S-Line 系列 |
|---|---|
| X75 → | S-075 |
| X50 → | S-050 |
| X39 → | S-039 |
| X31 → | S-031 |
所有关于选择兼容 S-Line 型号及集成到您测试系统的相关信息,均已紧凑汇总。
S-Line 适用于 075、050、039 和 031 mil 等小栅距以及高封装密度。
为实现与测试点的最佳接触,提供多种针头形状和弹簧力。
此外,还有带更高弹簧预紧力的 E 型号,以可靠穿透氧化层和污染物。
S-Line 接触探针及触探部件可集成到所有常见的测试治具中。它们专为直接集成到基于 X-Probe® 的系统中而开发,无需适配器调整。
对于目前配备标准探针的 INGUN 测试治具,还提供专用的 S-Line 套件。使用这些套件,无需完全重新设计测试治具,即可将现有测试治具改装为无套筒技术。
根据型号不同,套件由两到四个安装于接触支撑板下方的适配器板组成。
优势:
50 多年来,我们一直以可靠的测试与触探解决方案服务于全球企业。
我们的技术专家乐意为您找到适合您测试系统的 S-Line 型号。
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