SleeveProbeTM
与众不同的创新技术
即使有污垢和涂层，也能实现高性能触探
传统的细间距探针在坚硬、脏污或有涂层的表面上往往无法发挥应有的功效。而 SleeveProbe™ 则能在 30 密耳的栅格中提供市面上最高的触探力 (3 N)。
- 易于渗透焊接助焊剂和 OSP 涂层
- 在相同冲程下产生不同力 - 大大减少探针更换次数
- 效率更高，维护和运行成本更低
使用寿命长 - 与标准探针一样坚固耐用
传统的细间距探针通常容易磨损，而 SleeveProbe™ 则以其坚固的设计和在执行侧使用标准探针部件脱颖而出。
- 使用寿命与坚固耐用的 100-mil 标准插针相当
- 导套壁厚增加，确保结构稳定性
- 耐用钨制成的低磨损针尖
特点: 活塞具有弹性，能够可靠补偿治具组件中斜孔等公差，从而延长使用寿命。
360° 触探在最小空间内确保最大灵活性
电子设备正变得越来越紧凑和复杂，这不仅需要更小的元件，还需要灵活的印刷电路板模具。SleeveProbe™ 可以轻松应对这些挑战:
- 首个用于 360° 全方位触探的测试解决方案
- 探针定位灵活，为设计提供最大自由度
- 独立选择触探和施力方向
SleeveProbeTM
专为要求苛刻的应用而开发
- 触探受污染表面（焊剂）或涂层表面（如 OSP 涂层）的理想选择
- 非常适合在线冶具中的细间距应用，使用寿命与坚固耐用的 100 密耳标准探针相同
- 可实现测试点的角度触探，确保冶具设计的灵活度
- 精确触探微型测试点，令非常平整的安装高度成为可能
- 易于与标准探针组合，是多级触探的理想选择，无需额外冶具行程（例如 ICT/FCT）