INGUN 手动测试治具产品包含若干系列，可用于各类应用领域，并具有不同的最大允许接触力、平行行程、规格尺寸以及使用寿命。
取决于组件、件数以及变型数量，客户可获得能够满足其需求的量身定制的理想解决方案。
MA xxx 系列:
用于单件测试的手动测试治具
MA xxx 系列测试治具适用于对数量较小而型号多样的电子组件进行触探或闪存编程。该测试治具设计作为替换套件系统，可与现有测试系统连接，并通过专门针对被测电子组件而扩展的替换套件运行。
- 替换套件系统
- 侧面开放式压紧装置
- 可堆垛、可完全取下的下部开放式外壳
- 可任意定义的内部接口
- 可提供标准型和 ESD 型替换套件，并可在无需任何工具的情况下快速安装，无需后续调校即可使用
- 压紧装置和探针支承单元可用螺丝固定为一个整体，使针床受到保护（以便储存/运输）
- 使用寿命：300,000 次负载循环（在实验室条件下）
MA 20xx 系列:
用于批量测试的手动测试治具
MA 20xx 系列测试治具适用于对数量中等（批量测试）而变型数量少的电子组件进行触探。该测试治具设计作为无内部接口的单独系统，可与现有测试系统连接，并通过专门针对被测电子组件而扩展的、固定安装的替换套件运行。其具有以下产品特性：
- 无内部接口的单独系统
- 高达 2,000 N 的高接触力
- 省力的终端位置阻尼开启机构
- 固定安装的替换套件
- 带或不带测试系统接口
- 使用寿命：500,000 次负载循环（在实验室条件下）
MA21xx 系列:
用于批量测试的手动测试治具
MA 21xx 系列测试治具适用于对数量中等而型号较多的电子组件进行触探。该测试治具设计作为替换套件系统，可与现有测试系统连接，并通过专门针对被测电子组件而扩展的替换套件运行。其具有以下产品特性：
- 替换套件系统
- 高达 2,000 N 的高接触力
- 省力的终端位置阻尼开启机构
- 可进行模块化配置的内部接口
- 无需工具即可快速设置替换套件，无需后续调校即可使用
- 带或不带测试系统接口
- 压紧装置和探针支承单元可用螺丝固定为一个整体，使针床受到保护（以便储存/运输）
- 使用寿命：500,000 次负载循环（在实验室条件下
MA 32xx 系列:
用于大量测试的手动测试治具
MA 32xx 系列测试治具适用于对数量较大且型号较多的电子组件进行触探。该测试治具设计作为替换套件系统，可与现有测试系统连接，并通过专门针对被测电子组件而扩展的替换套件运行。其具有以下产品特性：
- 坚固耐用，且驱动器针对环境恶劣的测试场地进行了优化
- 替换套件系统
- 高达 2,000 N 的高接触力
- 高达 22 mm 的平行行程
- 省力的终端位置阻尼开启机构
- 可进行模块化配置的内部接口
- 无需工具即可快速设置替换套件，无需后续调校即可使用
- 压紧装置和探针支承单元可用螺丝固定为一个整体，使针床受到保护（以便储存/运输）
- 使用寿命：2,000,000 次负载循环（在实验室条件下）
适配器结构的最大灵活性
对于手动测试冶具，可提供标准型、防静电型 (ESD) 和高频型替换套件 (ATS)，无需工具即可为替换套件式测试冶具快速完成更换，无需后续调校。替换套件由探针支承单元和压紧装置组成。探针支承单元包括压板、探针支承板、接线保护板以及（依据型号）一个可个性化配备接口模块的内部接口。压紧装置由压紧板和前方的压头组成。