SUCCESS-STORY
MA 20 xx、MA 21xx 和 MA 32xx 系列测试冶具套件现在与 ODU 的大规模互连接口兼容，并附带一个此接口，可大大提升测试效率。
大规模互连 (MI) 系统有助于高效、灵活、模块化地测试印制电路板和预组装电子组件。因此，INGUN 与 ODU 合作，从单一来源提供大规模互连接口：客户可从 ODU-MAC® Black Line 系统中选择合适的接口，并与 INGUN 的 MA 20xx、MA 21xx 或 MA 32xx 系列测试冶具相结合。
每个 MI 接口最多可以安装 12 个框架，这些框架可配备 32 种选配模块。可通过它们传输信号、电流、高频、介质（空气/流体）以及光波和真空。各模块可通过夹子轻松固定在框架中，从而方便、低成本地在测试点与测试系统之间建立精准契合的连接。
12 个框架、32 种模块、多达 4608 个信号触点
一个接口最多可以实现 4,608 个信号触点。也可选择为大规模互连系统提供电子套装：其所需空间较少、可一键式操作，从而有助于提升测试系统自动化过程的功能安全性。此外，该接口还配备了快速锁定系统和八个紧固点，以防框架变形。
得益于与 ODU 新建立的合作伙伴关系，INGUN 能够从单一来源为客户提供包括测试冶具、MI 接口和弹簧探针在内的新型全套解决方案，从而更好地贯彻我们的服务宗旨——简化您的测试组件！
