趋势
在电子元件制造领域,元件变得越来越小——INGUN 以细间距探针为该趋势提供支持。
这一趋势在智能手机的发展道路上就有清晰体现:电子元件的集成密度持续提高,功能范围不断扩大。机电一体化和微电子技术在过去几十年间稳步发展。
INGUN 以合适的测试解决方案为这一趋势提供支持,即使是最微小的部件和栅格也不在话下——当然,INGUN 还始终恪守“德国制造”的一贯品质。
在狭小空间内安装更多组件
电子元件开发人员出于多种原因致力于提高组件集成密度。例如,可通过这种方式节省面积、空间或重量。此外还有一些功能性原因,如缩短信号路径,或增加存在干扰的电路部件之间的空间距离。然而,最普遍的原因之一是增加功能数量,即在同一块印制电路板或同一组件上实现的功能密度。
小型化趋势:细间距便是理想解决方案
INGUN 可满足越来越小的设计构造的测试要求,并提供种类丰富的探针,确保始终满足最严苛的质量要求。所谓的细间距探针 用于彼此非常靠近的测试点(细间距)——这是标准探针无法可靠触探的地方。
使用时是否搭配针套存在显著区别。如果使用带针套的探针,则可从上方以常规方式更换探针,不必断开电气连接。为避免费时费力的针套接线,建议采使用预先组装好的针套。
INGUN 的创新之处:不带针套的探针
如果是带有插头连接的探针,则可以省去针套 ,使其适用于更小的栅格。INGUN 目前提供的解决方案适用于 ≥25 密耳的栅格尺寸。插头通常被压入或粘在板上。探针浮动安放在探针支承板上,借助固定板/导向板居中或固定。
这种扩展方式具有以下优势:
- 触探非常小的焊盘(栅格小于带针套的情况)
- 固定板/导向板的晃动间隙小,确保触击精度高
- 测试冶具可实现三明治结构
- 探针支承板上允许的钻孔公差较大