真空测试治具

真空测试冶具 (VA) 通常是没有上层结构的单件测试冶具。其具有多种尺寸、带或不带测试系统接口，适用于所有常见测试系统和接口。真空盒设计用于单侧 1 级或单侧 2 级触探，以进行组合型 FCT/ICT 测试。

单侧 2 级触探通过电动运行的平移板实现。ICT 测试在第一级进行，FCT 测试在第二级进行，第二级比第一级高出约 5 mm。通过适当的上层结构，例如以附加触探装置 (ZSK) 的形式，可以从上方实现额外的 1 级触探，从而使真空测试冶具能够进行双侧触探。真空测试冶具适用于使用真空操作型测试系统进行测试，其中平行触探行程是通过真空（负压）自动实施的。其也适用于触探数量大（大量测试）而变型数量少的电子组件。