真空测试治具 VA 3070ST/i3070 产品 115194
技术数据
| 产品组 : | 真空测试治具 (VA) |
|---|---|
| 主系列 : | VA xxxx |
| 子系列 : | VA 30xx |
| 结构系列 : | VA 3070ST |
| 尺寸 : | xx70S |
| 治具类型 : | 串联冶具，Keysight small（小号） |
| 触探行程实施 : | 真空 |
| 外壳类型 : | 扁平外壳 |
| 最大接口信号 : | 3552 |
| 需要接口模块 : | 否 |
| 触探装置方向 : | ICT 下 |
| 最大接触力 : | 5500 N |
| 平行触探行程约 : | 7 mm |
| 测试系统接口 : | Keysight i3070 small（小号） |
| 重量 : | 19.4 kg |
| 最小温度 : | + 10 °C |
| 最大温度 : | + 60 °C |
| 低电压 : | 否 |
| 静电放电 (ESD) 符合性 : | 否 |
| RoHS 符合性 : | RoHS-3;6a;6c |
| 下部探针安装高度 : | 16 mm |
|---|---|
| 标准规格 : | 是 |
| 标准有效面积（宽x深） : | 2x 115 x 400 mm |
| 静电放电 (ESD) 规格 : | 否 |
| 高频规格 : | 否 |
| 刚性滚针规格 : | 否 |
| 2 级规格 : | 否 |
| 上部附加触探装置 (ZSK) : | 是，采用合适的附加选项 |
| 外部尺寸，闭（宽x深x高） : | 478 x 460 x 117 mm |