真空测试治具 VA 3070S-2e/ZSK-10P/i3070 产品 115152
技术数据
产品组 : | 真空测试治具 (VA) |
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主系列 : | VA xxxx |
子系列 : | VA 30xx |
结构系列 : | VA 3070S |
尺寸 : | xx70S |
治具类型 : | 单件冶具,附加触探装置,Keysight small(小号) |
触探行程实施 : | 真空 |
外壳类型 : | 扁平外壳 |
最大接口信号 : | 3552 |
需要接口模块 : | 否 |
触探装置方向 : | I/FCT 下 ICT 上 |
最大接触力 : | 13000 N |
平行触探行程约 : | 12 mm |
测试系统接口 : | Keysight i3070 small(小号) |
重量 : | 30 kg |
最小温度 : | + 10 °C |
最大温度 : | + 60 °C |
低电压 : | 否 |
静电放电 (ESD) 符合性 : | 否 |
RoHS 符合性 : | RoHS-3;6a;6c |
压头长度 : | 15 mm |
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上部探针安装高度 : | 16 mm |
下部探针安装高度 : | 16 mm |
下部 2 级探针安装高度 : | 21.5 mm |
电路板上方净空高度 : | 10 mm |
标准规格 : | 是 |
静电放电 (ESD) 规格 : | 否 |
高频规格 : | 否 |
刚性滚针规格 : | 否 |
2 级规格 : | 是 |
上部附加触探装置 (ZSK) : | 是 |
触探装置有效面积(宽x深) : | 275 x 330 mm |
外部尺寸,闭(宽x深x高) : | 631 x 534 x 165 mm |