真空测试治具 VA 3070S-2e/ZSK-10P/i3070 产品 115152

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RoHS 符合性确认 (EN|PDF)
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产品规格表 (ZH|pdf)
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CAD 数据 (INGUN_115152.STEP)
文件 (INFO_4675.PDF)
文件 (INFO_4677.PDF)
文件 (115152__Kundenzeichnung.PDF)
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VA 3070S-2e/ZSK-10P/i3070 (115152)
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技术数据
一般数据
产品组 : 真空测试治具 (VA)
主系列 : VA xxxx
子系列 : VA 30xx
结构系列 : VA 3070S
尺寸 : xx70S
治具类型 : 单件冶具,附加触探装置,Keysight small(小号)
触探行程实施 : 真空
外壳类型 : 扁平外壳
最大接口信号 : 3552
需要接口模块 :
触探装置方向 : I/FCT 下 ICT 上
最大接触力 : 13000 N
平行触探行程约 : 12 mm
测试系统接口 : Keysight i3070 small(小号)
重量 : 30 kg
最小温度 : + 10 °C
最大温度 : + 60 °C
低电压 :
静电放电 (ESD) 符合性 :
RoHS 符合性 : RoHS-3;6a;6c
技术数据
压头长度 : 15 mm
上部探针安装高度 : 16 mm
下部探针安装高度 : 16 mm
下部 2 级探针安装高度 : 21.5 mm
电路板上方净空高度 : 10 mm
标准规格 :
静电放电 (ESD) 规格 :
高频规格 :
刚性滚针规格 :
2 级规格 :
上部附加触探装置 (ZSK) :
触探装置有效面积(宽x深) : 275 x 330 mm
外部尺寸,闭(宽x深x高) : 631 x 534 x 165 mm