nanoVTEP 连接器测试 OTU-KS-NV-155-013 产品 109706

  • 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
  • 适用于软件版本为 9.2 或更高的所有 Keysight 307x 测试系统
  • 与 VTEP 技术相比，重复精度、测试覆盖率和故障检测能力均有提高
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nanoVTEP 连接器测试 OTU-KS-NV-155-013 产品 109706

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RoHS 符合性确认 (EN|PDF)
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产品规格表 (ZH|pdf)
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CAD 数据 (INGUN_109706.STEP)
文件 (INFO_4250.PDF)
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OTU-KS-NV-155-013 (109706)
OTU-KS-NV-155-013 (109706) OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386) OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387) OTU-KS-NV-031-031 (109704) OTU-SP-ES-028-028-L300 (32630) OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388) OTU-KS-NV-065-065 (109705) OTU-TD-FX-CS-008-005 (19644) OTU-TD-FX-CS-007-004 (19643) OTU-DT-OC-160-100 (18748) TTC-SP-NTC-SP-010-010-GKS-KS14 (60291)
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技术数据
一般数据
产品组 : 开路测试
结构系列 : OTU
类型 : Keysight 无矢量测试
规格 : nanoVTEP SP 连接器
配件类型 : 扩展配件
交付状态 : 包括 nanoVTEP 放大器、GKS
宽度 : 12.8 mm
高度 : 37.8 mm
最小温度 : + 10 °C
最大温度 : + 60 °C
RoHS 符合性 : RoHS-3
技术数据
行程 : 2 mm
长度 : 155 mm
外部尺寸（宽x深x高） : 155.0 x 12.8 x 37.8 mm
适用于
真空测试治具 (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
替换套件 (WS) : WS Keysight

真空测试治具

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
真空测试治具 VA 2070S/i3070-5 产品 4844-KIT
  • 真空测试治具具有平行闭合的真空盒，用于测试大量印制电路板
  • 坚固耐用，便于维护，使用寿命出色
  • 可用于 Keysight i3070 测试系统
  • 操作更便利，且无明显的闭合力
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 详细的随附文件（例如：扩展图）
产品细节