NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16 英寸 OTU-KS-NV-004-004-G2 产品 114387

  • 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
  • 适用于软件版本为 9.2 或更高的所有 Keysight 307x 测试系统
  • 与 VTEP 技术相比，重复精度、测试覆盖率和故障检测能力均有提高
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NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16 英寸 OTU-KS-NV-004-004-G2 产品 114387

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RoHS 符合性确认 (EN|PDF)
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产品规格表 (ZH|pdf)
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CAD 数据 (INGUN_114387.STEP)
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OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387)
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技术数据
一般数据
产品组 : 开路测试
结构系列 : OTU
类型 : Keysight 无矢量测试
规格 : nanoVTEP Gen2 SP 0.16 英寸
配件类型 : 扩展配件
交付状态 : 包括 nanoVTEP Gen2
宽度 : 4 mm
高度 : 48.7 mm
最小温度 : + 10 °C
最大温度 : + 60 °C
RoHS 符合性 : RoHS-3
技术数据
行程 : 4 mm
长度 : 4 mm
外部尺寸（宽x深x高） : 4.0 x 4.0 x 48.7 mm
适用于
真空测试治具 (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
替换套件 (WS) : WS Keysight