nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF 产品 108711

  • 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
  • 适用于软件版本为 9.2 或更高的所有 Keysight 307x 测试系统
  • 与 VTEP 技术相比，重复精度、测试覆盖率和故障检测能力均有提高
  • 2x 64 个触点，最多可连接 64 个 nanoVTEP 探针
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nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF 产品 108711

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RoHS 符合性确认 (EN|PDF)
文件 (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
CAD 数据 (INGUN_108711.STEP)
产品规格表 (ZH|pdf)
文件 (108711__Kundenzeichnung.PDF)
文件 (INFO_4250.PDF)
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OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
OTE-SP-ES-016-MUX (32627) OTE-KS-NV-064-MUX (108710) OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
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技术数据
一般数据
产品组 : 开路测试
结构系列 : OTE
类型 : Keysight 无矢量测试
规格 : nanoVTEP ConnectCheck Signal C
配件类型 : 扩展配件
宽度 : 35.8 mm
高度 : 17.4 mm
最小温度 : + 10 °C
最大温度 : + 60 °C
RoHS 符合性 : RoHS-3
技术数据
安装 : 螺纹 M3
极数 : 2x 64
长度 : 230 mm
外部尺寸（宽x深x高） : 230.0 x 35.8 x 17.4 mm
适用于
真空测试治具 (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
替换套件 (WS) : WS Keysight

真空测试治具

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
真空测试治具 VA 2070S/i3070-5 产品 4844-KIT
  • 真空测试治具具有平行闭合的真空盒，用于测试大量印制电路板
  • 坚固耐用，便于维护，使用寿命出色
  • 可用于 Keysight i3070 测试系统
  • 操作更便利，且无明显的闭合力
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 详细的随附文件（例如：扩展图）
产品细节