nanoVTEP 单探针 B/C Size OTC-KS-NV-SP-007-004 产品 108702

  • 开路测试用组件，用于半导体芯片的电容式测试，检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
  • 适用于软件版本为 9.2 或更高的所有 Keysight 307x 测试系统
  • 与 VTEP 技术相比，重复精度、测试覆盖率和故障检测能力均有提高
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nanoVTEP 单探针 B/C Size OTC-KS-NV-SP-007-004 产品 108702

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RoHS 符合性确认 (EN|PDF)
文件 (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
文件 (INFO_4250.PDF)
CAD 数据 (INGUN_108702.STEP)
产品规格表 (ZH|pdf)
文件 (108702__Kundenzeichnung.PDF)
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OTC-KS-NV-SP-007-004 (108702)
OTC-SP-ES-SP-014-020 (33527) OTC-SP-ES-SP-035-035 (33529) OTC-DT-OC-SP-163-102 (18747) OTC-KS-NV-SP-004-004 (108701) OTC-KS-NV-SP-007-004 (108702) OTC-KS-NV-SP-031-031 (108704) OTC-SP-ES-EP-L300 (33512) OTC-SP-ES-EP-L400 (33513) OTC-SP-ES-EP-L600 (33514) OTC-SP-ES-SP-005-009 (33519) OTC-TD-FX-EP (26486) OTC-KS-NV-KS-G2 (114374) OTC-KS-NV-ST-G2 (114373) OTC-KS-NV-EP-ST-KS-G2 (114385) OTC-DT-OC-EP (18746) OTC-KS-NV-EP (108707) OTC-KS-NV-GKS (111606) OTC-KS-NV-SP-155-013 (108706) OTC-SP-ES-EP-L800 (33515) OTC-SP-ES-SP-006-015 (33521) OTC-SP-ES-SP-008-013 (33522) OTC-SP-ES-SP-010-022 (33523) OTC-TD-FS-EP-GKS (14762) OTC-TD-FS-SP-013-010 (14763) OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS (54772) OTC-SP-ES-SP-028-028 (33528) OTC-DT-OC-EP-GKS (54770) OTC-KS-NV-SP-010-010 (108703) OTC-KS-NV-SP-065-065 (108705) OTC-SP-ES-SP-004-007 (33518) OTC-SP-ES-SP-006-011 (33520) OTC-SP-ES-SP-010-019 (33524) OTC-SP-ES-SP-010-028 (33525) OTC-SP-ES-SP-013-019 (33526) OTC-TD-FS-SP-015-011 (14764)
在这里，你可以选择性地配置一个新的变体。
技术数据
一般数据
产品组 : 开路测试
结构系列 : OTC
类型 : Keysight 无矢量测试
规格 : nanoVTEP SP B/C Size
配件类型 : 扩展配件
交付状态 : 无 nanoVTEP 放大器
宽度 : 4 mm
高度 : 3.1 mm
最小温度 : + 10 °C
最大温度 : + 60 °C
RoHS 符合性 : RoHS-3
技术数据
长度 : 7 mm
外部尺寸（宽x深x高） : 7.0 x 4.0 x 3.1 mm
适用于
真空测试治具 (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
替换套件 (WS) : WS Keysight

真空测试治具

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
真空测试治具 VA 2070S/i3070-5 产品 4844-KIT
  • 真空测试治具具有平行闭合的真空盒，用于测试大量印制电路板
  • 坚固耐用，便于维护，使用寿命出色
  • 可用于 Keysight i3070 测试系统
  • 操作更便利，且无明显的闭合力
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 1 级和 2 级产品变型
  • 详细的随附文件（例如：扩展图）
产品细节