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- Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto ai sistemi di test Teradyne
| Altezza: | 4,9 mm |
|---|---|
| Conforme a RoHS: | sì |
| Dimensioni esterne (LxPxA): | 9,5 x 11,5 x 4,9 mm |
| Gruppo di prodotti: | opens test |
| Kit di ricambio WS: | WS Teradyne/TSH5x |
| Larghezza: | 9,5 mm |
| Lunghezza: | 11,5 mm |
| Peso: | 0,01 kg |
| Stato di consegna: | Piastra elettronica |
| Temperatura max.: | 60 °C |
| Temperatura min.: | 10 °C |
| Tipo: | Teradyne opens test |
| Tipo di accessorio: | accessori di ampliamento |
| Versione: | FrameScan FX 2.0 |
| connettori di prova per vuoto (VA): | VA 20xx, VA 40xx |
| serie: | OTC |
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- Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
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- Lunghezza: 11,5 mm
- Dimensioni esterne (LxPxA): 9,5 x 11,5 x 4,9 mm
- Gruppo di prodotti: opens test
- serie: OTC
- Tipo: Teradyne opens test
- Versione: FrameScan FX 2.0
- Tipo di accessorio: accessori di ampliamento
- Stato di consegna: Piastra elettronica
- Larghezza: 9,5 mm
- Altezza: 4,9 mm
- Peso: 0,01 kg
- Temperatura min.: 10 °C
- Temperatura max.: 60 °C
- Conforme a RoHS: sì
- connettori di prova per vuoto (VA): VA 40xx, VA 20xx
- Kit di ricambio WS: WS Teradyne/TSH5x