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Détails du produit
  • Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
  • Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
  • Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
  • 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP

Autres produits de cette série :

Données techniques
  • Groupe de produits: Opens Tests
  • Série: OTE
  • Type: Keysight Vectorless Test
  • Version: nanoVTEP Signal Conditioner B.
  • Type d’accessoire: Accessoires d’équipement
  • Largeur: 25,8 mm
  • Hauteur: 17,4 mm
  • Température min.: 10 °C
  • Température max.: 60 °C
  • Conforme RoHS: oui
  • Interfaces de test sous vide (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
  • Kits amovibles WS: WS Keysight
  • Montage: Filetage M3
  • Nombre de pôles: 2x 64
  • Longueur: 230 mm
  • Dimensions hors tout (LxPxH): 230 x 25,8 x 17,4 mm
Outils et accessoires adaptés
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