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Produkt Details
  • Conception robuste et compacte pour applications ICT/FCT difficiles en espaces exigus
  • Pour un contact optimal au niveau des points de test (p. ex. PAD, VIA et PIN), différentes formes de têtes sont disponibles au choix en différents diamètres et finitions. De même, différentes forces de ressort sont disponibles.

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Technische Daten
  • Groupe de produits: Pointe de test Bead Probe
  • Groupe de produits: ICT / FCT (test en circuit et test de fonction)
  • Sous-groupe de produits: Pointe de test Bead Probe
  • Série: GKS-550
  • Trame: 1,27 mm
  • Mise en contact de: Bead
  • Mise en contact de: Pin
  • Mise en contact de: Grande broche
  • Magnétique: oui
  • Type d’incorporation: enfichable
  • Système de changement rapide: oui
  • Hauteur d’incorporation réglable: non
  • Sécurisé antitorsion: non
  • Douille de contact adaptée: KS-550
  • Douille de contact adaptée: KS-550 WL
  • Température min.: -40 °C
  • Température max.: 80 °C
  • Conforme RoHS: oui
  • Longueur totale: 34,6 mm
  • Diamètre de douille de pointe: 0,78 mm
  • Course maximale: 6,35 mm
  • Précontrainte ressort: 0,66 N
  • Cote E / Cote de collet: 00
  • Force de ressort en course de travail: 1,5 N
  • Course de travail: 4,3 mm
  • Ampérage supportable / Intensité nominale: 3 A
  • Résistance (Ri) typique: 20 mOhm
  • Forme de tête: 60 Plaquette (cannelée) à division fine
  • Diamètre de tête: 0,9 mm
  • Forme de tête surface: A Or
  • Forme de tête matériau: 3 CuBe
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