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Produkt-Informationen "OTC-KS-NV-GKS"
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
| RoHS-konform: | ja |
|---|---|
| Produktgruppe: | Opens Tests |
| Baureihe: | OTC |
| Ausführung: | nanoVTEP GKS (QA) |
| Temperatur min.: | 10 °C |
| Temperatur max.: | 60 °C |
| Typ: | Keysight Vectorless Test |
| Vakuum-Prüfadapter (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Zubehörtyp: | Ausbauzubehör |
| Wechselsätze WS: | WS Keysight |
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Produkt Details
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
Weitere Produkte dieser Baureihe:
Technische Daten
Allgemeine Daten
- Produktgruppe: Opens Tests
- Baureihe: OTC
- Typ: Keysight Vectorless Test
- Ausführung: nanoVTEP GKS (QA)
- Zubehörtyp: Ausbauzubehör
- Temperatur min.: 10 °C
- Temperatur max.: 60 °C
- RoHS-konform: ja
Passend für
- Vakuum-Prüfadapter (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Wechselsätze WS: WS Keysight
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