对于带有污染或涂层的平面测试点，应使用具有自清洁能力的侵入型头型。对于清洁焊盘，可采用非侵入式头型，以避免留下针痕。 提示：在多层 PCB 上使用侵入性强的头型并配合高弹簧力时，务必注意探针的刺入深度。
导通孔可通过三棱形探针在通孔内环处触探，或使用冠状头型正面触探。
对于带有污染或涂层的平面测试点，应使用具有自清洁能力的侵入型头型。对于清洁焊盘，可采用非侵入式头型，以避免留下针痕。 提示：在多层 PCB 上使用侵入性强的头型并配合高弹簧力时，务必注意探针的刺入深度。
导通孔可通过三棱形探针在通孔内环处触探，或使用冠状头型正面触探。
探针套筒：容纳柱塞和弹簧，同时传导电信号。有机保护涂层可优化柱塞滑动性能。
弹簧：提供持续稳定的触探力，即使经过数十万次触电仍能保持性能。
柱塞：负责传导电信号、降低接触电阻，通常由淬火钢或铍铜 (CuBe) 制成，黄铜使用较少。
头部形状始终取决于应用场景。可选种类众多——从被动型到具有自清洁功能的激进型接触头。
探针套筒：容纳柱塞和弹簧，同时传导电信号。有机保护涂层可优化柱塞滑动性能。
弹簧：提供持续稳定的触探力，即使经过数十万次触电仍能保持性能。
柱塞：负责传导电信号、降低接触电阻，通常由淬火钢或铍铜 (CuBe) 制成，黄铜使用较少。
头部形状始终取决于应用场景。可选种类众多——从被动型到具有自清洁功能的激进型接触头。
国际标准探针不带法兰，是 ICT/FCT 测试中的经典选择，适用于 39 至 100 mil 间距。
对于 ICT/FCT 组合测试，提供 9.3 mm 长行程版本。
适用于恶劣环境或紧凑空间的测试冶具，可选用紧凑型、加固设计的标准探针。
与插入式探针不同，螺纹连接式探针通过与接触套筒牢固拧紧，实现更加稳固的连接。特别适合存在振动、倒装安装或高机械负载的场景。
E-TYPE® 探针具备更高的初始弹力，即使存在 FLUX 残留、氧化层或绝缘涂层也能实现可靠触电。
针对带 OSP 涂层等更严苛应用，推荐使用 E-TYPE Fusion 系列：其结合了高预压弹簧、侵入性强的头型与高耐磨涂层。
如仍存在接触不良问题，建议使用旋转探针，其旋转动作可轻松穿透坚硬或绝缘表层。
对于密集排布的测试点，Fine-Pitch 探针是首选。
若需更高机械稳定性，可使用 S-Line（无插套系列），其以接触端点取代触探套筒，允许更大探针直径。
若需极致灵活性，推荐 SleeveProbe™：其创新结构实现 360° 触探、任意位置布点，集紧凑尺寸与 100 mil 标准探针的强度于一身。
针对个别测试点，可采用气动探针，例如用于按键动作检测或难以触探位置的测试——独立于测试冶具的整体动作。
柱塞通过气压推出，回程由复位弹簧完成。该结构可实现精确控制的触探动作，无需复杂机械结构，非常适合用于顺序测试或特殊应用。
若需同时进行在位检测，可选择带集成开关的气动探针。
对于既要求较高机械强度、又需要灵活调整安装高度的应用，公制标准探针是理想的选择。这些具有更大的活塞直径和更明显的凸缘设计。借助不同高度的凸缘，可在无需使用间隔套管的情况下灵活调整安装高度——即便在后期阶段也能轻松实现。
部分型号还配备中部滚压结构，可有效减少晃动间隙，从而特别适用于对小型测试点的精确触探。
与国际标准探针类似，公制版本也提供多种长度与间距规格。
