选择合适的测试冶具需考虑三个关键因素：
- 有效测试区域:您的被测件有多大?
- 触探力:测试冶具需施加多大的触探力?
- 产量规模:是小批量、量产，还是大批量制造?
测试对象的多样性同样关键：若产品种类较少，建议使用单一冶具。若需测试多种电路板，我们的更换模块系统将为您提供最大灵活性与极短换型时间。
仍不确定如何选择? 我们为您提供对比表，辅助决策。
快速换型，轻松调试
我们的 MA xxx 系列测试冶具特别适用于测试或烧录多品种、小批量的电子电路板。
借助更换模块系统，您可快速便捷地适配不同被测件。开放式压紧装置提供自由操作空间——非常适合调试及人工干预。
性能参数:
- 标准或 ESD 版更换模块系统
- 内部接口可自由定义
- 触探力：最高 300 N
- 有效面积：最大 160 × 100 mm
- 使用寿命：300,000 次负载循环（在实验室条件下）
两种系统满足中等批量需求
对于中批量的系列测试，INGUN 提供两种高性能解决方案：MA 20xx 系列：适用于单一产品，低品种变化；MA 21xx 系列：灵活的更换模块系统，适用于频繁更换测试对象。
MA 20xx 系列性能参数:
- 触探力：最高 2,000 N
- 有效面积：最大 440 × 310 mm
- 使用寿命：500,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 可选配测试系统接口
MA 21xx 系列性能参数:
- 触探力：最高 2,000 N
- 有效面积：最大 600 × 450 mm
- 使用寿命：500,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 模块化配置的内部接口
- 可选配测试系统接口
面对高产量的耐用之选
MA 32xx 系列专为大规模量产而设计。得益于模块化更换系统，可实现快速更换被测件——在高产量环境中确保过程稳定性与持久性。
性能参数:
- 超大并行行程：22 mm
- 触探力：最高 2,000 N
- 有效面积：最大 540 × 310 mm
- 使用寿命：2,000,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 模块化配置的内部接口
高频信号测量更可靠
我们的 MA 21xx 与 MA 32xx 手动测试冶具可搭载高频更换模块——免工具、免调试，几秒内完成更换。助您稳定测量高频电路板，免受外部干扰。
性能参数:
- 高屏蔽性能，适用于 WLAN、蓝牙等
- 高频信号抗干扰测量
- 可选配内部接口
- 满足 EMC 要求的高频传输方案
- 可选配高频吸收材料
快速换型，轻松调试
我们的 MA xxx 系列测试冶具特别适用于测试或烧录多品种、小批量的电子电路板。
借助更换模块系统，您可快速便捷地适配不同被测件。开放式压紧装置提供自由操作空间——非常适合调试及人工干预。
性能参数:
- 标准或 ESD 版更换模块系统
- 内部接口可自由定义
- 触探力：最高 300 N
- 有效面积：最大 160 × 100 mm
- 使用寿命：300,000 次负载循环（在实验室条件下）
两种系统满足中等批量需求
对于中批量的系列测试，INGUN 提供两种高性能解决方案：MA 20xx 系列：适用于单一产品，低品种变化；MA 21xx 系列：灵活的更换模块系统，适用于频繁更换测试对象。
MA 20xx 系列性能参数:
- 触探力：最高 2,000 N
- 有效面积：最大 440 × 310 mm
- 使用寿命：500,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 可选配测试系统接口
MA 21xx 系列性能参数:
- 触探力：最高 2,000 N
- 有效面积：最大 600 × 450 mm
- 使用寿命：500,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 模块化配置的内部接口
- 可选配测试系统接口
面对高产量的耐用之选
MA 32xx 系列专为大规模量产而设计。得益于模块化更换系统，可实现快速更换被测件——在高产量环境中确保过程稳定性与持久性。
性能参数:
- 超大并行行程：22 mm
- 触探力：最高 2,000 N
- 有效面积：最大 540 × 310 mm
- 使用寿命：2,000,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 模块化配置的内部接口
高频信号测量更可靠
我们的 MA 21xx 与 MA 32xx 手动测试冶具可搭载高频更换模块——免工具、免调试，几秒内完成更换。助您稳定测量高频电路板，免受外部干扰。
性能参数:
- 高屏蔽性能，适用于 WLAN、蓝牙等
- 高频信号抗干扰测量
- 可选配内部接口
- 满足 EMC 要求的高频传输方案
- 可选配高频吸收材料
附加模块：功能自由扩展
通过丰富的附加模块，您可为手动测试冶具及更换模块增添多种功能。可选配人体工学手柄、可视化标识或集成模块，有效提升操作舒适度、测试安全性及处理效率。请注意：并非所有附加模块均可随意组合。建议使用兼容性矩阵辅助选择。
省力操作与高触探力兼得
适用于中批量、高变种的系列测试，气动测试冶具通过气动驱动产生触探行程——降低操作压力，提升使用舒适性。 INGUN 提供两种驱动方式：PAZxxx 系列采用齿轮驱动，适合需要高触探力的扁平电路板；PAxxxx 系列采用凸轮结构，适配高组件（最高 49 mm）电路板。
性能参数:
- 标准或 ESD 版更换模块系统
- 触探力：最高 2,500 N (PAZ)／最高 700 N (PA)
- 使用寿命：1,000,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 模块化配置的内部接口
专为全自动化产线设计
当高产量测试需求进入自动化阶段，Inline 测试系统应运而生。我们的 Inline 更换模块可直接集成至测试系统，支持单面、双面或两段式触探结构——最适合在线测试与功能测试结合的自动化测试流程。
性能参数:
- 抗弯刚性的 FR4 触探载板
- 兼容 KABTEC、KEYSIGHT、KONRAD 与 SPEA 测试系统
- 使用寿命：2,000,000 次负载循环（在实验室条件下）
- 可选配测试系统接口
海报：测试冶具套件总览
为便于日常工作快速参考，我们将测试冶具套件及扩展配件的完整产品组合整理成一张精要海报。
