Info sui prodotti "OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS"
- Componenti collaudati per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto ai sistemi di test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) e Spea (Escan)
- Montaggio semplice e veloce
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- Componenti collaudati per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto ai sistemi di test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) e Spea (Escan)
- Montaggio semplice e veloce
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