Informations sur le produit "OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS"
- Composants confirmés pour l'open-test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
Connexion
Détails du produit
- Composants confirmés pour l'open-test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
Autres produits de cette série :
Données techniques