In-Circuit-Test (ICT)
Dans l’In-Circuit-Test, tous les composants présents sur la carte électronique sont testés individuellement. L’objectif est de détecter précocement les erreurs de garnissage, les défauts de soudure et électrique. Les points de test prévus dès la conception de la carte électronique permettent une mise en contact précise avec des pointes de test amorties.
Paramètres testés et schémas d’erreur typiques:
- Continuité, liaisons ouvertes, capacité, inductivité
- Composants manquants, soudés non au bon endroit ou défectueux
- Court-circuits et interruptions des circuits imprimés
- Composants semi-conducteurs défectueux (court-circuit, interruption, polarité erronée)
Functional Circuit Test (FCT)
Le test fonctionnel vérifie le fonctionnement d’ensemble ou une fonction partielle d’un module électronique. Ce faisant, l’environnement de mise en œuvre ultérieur est simulé pour juger le comportement électrique de façon proche de la réalité. La mise en contact a lieu via des interfaces présentes et des points de test accessibles.
Paramètres testés et schémas d’erreur typiques:
- Tension, intensité, puissance, fréquence
- Luminosité, couleur, reconnaissance d’image et vocale
- Température, pression, mouvement
- Erreurs fonctionnelles sans localisation directe